日置絕緣電阻測(cè)試儀ST5680

特點(diǎn)

直流耐壓絕緣電阻測(cè)試儀ST5680

電池的安全測(cè)試提供更優(yōu)化的檢測(cè)方案，通過(guò)波形分析提升電池的檢測(cè)品質(zhì)

準(zhǔn)確檢查絕緣性能，驗(yàn)證電池和電機(jī)質(zhì)量

通過(guò)波形和數(shù)值顯示有助于優(yōu)化生產(chǎn)工序、對(duì)收回的不合格產(chǎn)品進(jìn)行分析、宣傳檢查的可靠性

防止因電弧放電導(dǎo)致微小故障品流出

防止誤判導(dǎo)致的復(fù)測(cè)

支持廣泛的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)。搭載BDV（絕緣擊穿電壓）測(cè)量功能。

使用波形和數(shù)值驗(yàn)證絕緣性能【波形顯示功能】

ST5680是能夠基于各種安全標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行直流耐壓測(cè)試和絕緣電阻測(cè)試的測(cè)試儀。

不僅可以進(jìn)行PASS/FAIL的合格與否判定，也可以顯示、記錄測(cè)試時(shí)的輸出電壓波形和泄漏電流波形。

將測(cè)試可視化分析，有助于檢查的溯源。

輸出電壓和泄漏電流以波形顯示

可以通過(guò)波形確認(rèn)測(cè)試時(shí)輸出電壓或泄漏電流的動(dòng)向。

在確認(rèn)波形的同時(shí)，還可按時(shí)間順序確認(rèn)電壓值、泄漏電流值、電阻值。

無(wú)需使用電腦即可進(jìn)行波形放大顯示等操作，在現(xiàn)場(chǎng)就能進(jìn)行詳細(xì)的分析。

波形顯示的優(yōu)點(diǎn)

有助于優(yōu)化生產(chǎn)工序

通過(guò)分析檢查時(shí)的波形，可以推斷出生產(chǎn)工序中的不良因素。通過(guò)查明不良因素，優(yōu)化生產(chǎn)工序，從而能夠提高生產(chǎn)效率。

有助于對(duì)收回的不合格產(chǎn)品進(jìn)行分析

可以把收回的不合格品與當(dāng)初出廠檢測(cè)時(shí)的波形做比對(duì)。通過(guò)優(yōu)化合格品的判定標(biāo)準(zhǔn)，進(jìn)一步提高生產(chǎn)質(zhì)量。

有助于宣傳檢查的可靠性

波形的記錄管理有利于檢查的可溯源性，構(gòu)筑更高品質(zhì)的檢查體系，可以提升客戶的信任。

防止因電弧放電導(dǎo)致微小故障品流出[【電弧放電檢測(cè)功能】

可以檢測(cè)因?yàn)楹附用袒蚍蹓m異物等原因發(fā)生的電弧放電。

將引起輕微絕緣不良的產(chǎn)品判斷為微小故障品，可以防止出廠后因發(fā)熱原因引起的火災(zāi)事故或故障等風(fēng)險(xiǎn)。

防止誤判導(dǎo)致的復(fù)測(cè)【接觸檢查功能】

通過(guò)測(cè)量端子間的電容（雜散電容、被測(cè)物的電容），能判斷是否正確連接檢測(cè)對(duì)象。

防止將不合格品誤判為合格品

?測(cè)試中測(cè)試線脫落的情況

?測(cè)試部位間電阻增加的情況

例：測(cè)試線的老化、治具或高壓繼電器的老化等

可以輕松使用

?利用兩端子可以實(shí)現(xiàn)簡(jiǎn)單的接線

適用于電池、電機(jī)、電子零件等的耐壓測(cè)試

ST5680是向測(cè)試對(duì)象輸出高電壓，測(cè)試絕緣性能的測(cè)試儀。可以對(duì)從電子設(shè)備、電子零件、材料等的研究開(kāi)發(fā)到生產(chǎn)線的廣泛對(duì)象進(jìn)行安全測(cè)試。在電池中，用于電池模組、電池包、電芯的電極和外殼間的耐壓測(cè)試。

輸出電壓 Max.8 kV、輸出電流 Max.20 mA

配備了測(cè)量測(cè)試對(duì)象的泄漏電流以評(píng)估絕緣性的直流耐壓測(cè)試模式，以及測(cè)量電阻值以評(píng)估絕緣性的絕緣電阻測(cè)試模式。

在直流耐壓測(cè)試中，可輸出最大8 kV。 即使測(cè)試對(duì)象中含有電容成分，也可以通過(guò)20 mA的大容量輸出對(duì)測(cè)試對(duì)象進(jìn)行高速充電，從而縮短檢查節(jié)拍。

可以在不考慮電容成分的情況下進(jìn)行測(cè)試

就算是測(cè)試對(duì)象含有電容成分的情況下，因?yàn)橛胁灰装l(fā)生過(guò)沖的設(shè)計(jì)，不會(huì)對(duì)測(cè)試對(duì)象輸出超過(guò)設(shè)置電壓的電壓，所以可以放心進(jìn)行測(cè)試。

另外，通過(guò)配合延遲時(shí)間的設(shè)置，也可以不對(duì)充電電流流動(dòng)的時(shí)間進(jìn)行判斷，從而防止誤判。

※可測(cè)量的最大靜電電容量值200 nF (測(cè)量更大的電容值可能會(huì)導(dǎo)致測(cè)量時(shí)間變長(zhǎng)，或者測(cè)量值的偏差變大。 ）

最小分辨率0.001 μA的高精度判定

隨著電池和電機(jī)等絕緣性能的提高，對(duì)判斷耐壓測(cè)試合格與否的電流值設(shè)置要求也越來(lái)越高，要求設(shè)置為更小的電流。如果使用分辨率低的耐壓測(cè)試儀，則無(wú)法準(zhǔn)確測(cè)量泄漏電流的測(cè)量值。ST5680實(shí)現(xiàn)了最小分辨率0.001uA的高精度規(guī)格，因此可以正確測(cè)量微小的泄漏電流，判斷合格與否。

搭載BDV（絕緣擊穿電壓）測(cè)量功能

搭載了確認(rèn)測(cè)試對(duì)象絕緣擊穿電壓的BDV（Break Down Voltage）功能 。

以一定速度提高輸出電壓，確認(rèn)達(dá)到絕緣擊穿時(shí)的電壓。

測(cè)試方法按標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，有連續(xù)升壓測(cè)試和逐級(jí)升壓測(cè)試。

ST5680兩種測(cè)試都可以實(shí)施?？捎糜陔姵亻_(kāi)發(fā)時(shí)的性能評(píng)價(jià)(絕緣耐力評(píng)估)。

日置絕緣電阻測(cè)試儀ST5680

基本參數(shù)（精度保證時(shí)間1年）

主要功能  直流耐壓測(cè)試、絕緣電阻測(cè)試、絕緣擊穿電壓測(cè)試、波形顯示功能、ARC放電檢測(cè)功能、

              接觸檢查功能 (詳情請(qǐng)參照“各測(cè)試·功能"表)

              功能一覽聯(lián)鎖、自動(dòng)放電、消除偏移、瞬時(shí)輸出、命令監(jiān)控、I/O HANDLER、按鍵鎖定、

              自檢、校準(zhǔn)期限檢測(cè)、EXT SW（遠(yuǎn)程控制）

使用溫濕度范圍        0°C～40°C，80% RH或以下（無(wú)結(jié)露）

適合標(biāo)準(zhǔn)安全性：IEC 61010                

               EMC：IEC 61326

電源電壓AC 100 V ～ 240 V

功耗         約180 VA※                

※ 電源條件為電源電壓220 V、電源頻率 50/60 Hz、測(cè)試模式直流耐壓測(cè)試、測(cè)試電壓2.5 kV、

負(fù)載電流5 mA負(fù)載電阻500 kΩ）的情況下。

最大額定功率    800 VA

接口     通訊：USB，LAN，EXT. I/O

           選件：RS-232C（Z3001），GP-IB（Z3000）

           存儲(chǔ)：U盤

尺寸·重量           305（W）×142（H）×430（D）mm（不含突起物）

                        10.0 kg ± 0.2 kg

附件       電源線，CD-ROM（PDF：使用說(shuō)明書(shū)，通訊使用說(shuō)明書(shū)），EXT.I/O用公頭連接器，

             EXT.I/O用連接器蓋EXT.I/O用聯(lián)鎖解除治具，啟動(dòng)指南

各測(cè)試·功能

直流耐壓測(cè)試輸出電壓：DC 0.010 kV ～ 8.000 kV（1 V分辨率）

                                               輸出設(shè)置精度：±（1.2% of setting + 20 V）

                                               輸出電流/截止電流：20 mA max

                                               電流精度（*1）：3.00 mA ＜：±（1.5% rdg.＋2 μA）≤ 3.00 mA：±1.5% rdg.

                                               最小分辨率：0.001 μA

                                               測(cè)試時(shí)間：0.1 s ～ 999 s，Continue（Timer OFF）

                                               電壓上升/下降時(shí)間：0.1 s ～ 300 s / 0.1 s ～ 300 s，OFF

                                               短路電流200 mA 以上

                                               測(cè)試模式W→IR，IR→W，程序測(cè)試

絕緣電阻測(cè)試輸出電壓：DC 10 V ～ 2000 V（1 V分辨率）

                                               輸出設(shè)置精度：±（1.2% of setting + 20 V）

                                               電阻值顯示范圍：100.00 kΩ ～ 200.0 GΩ（0.01 kΩ分辨率）

                                               精度保證范圍：100.00 kΩ ～ 99.99 GΩ

                                               電阻精度：±（1.5% rdg. + 3 dgt.）*詳情參考下部表格

                                               測(cè)試時(shí)間：0.1 s ～ 999 s，Continue（Timer OFF）

                                                電壓上升/下降時(shí)間：0.1 s ～ 300 s / 0.1 s ～ 300 s，OFF

絕緣擊穿電壓測(cè)試測(cè)試方法：連續(xù)升壓測(cè)試，逐級(jí)升壓測(cè)試

                               測(cè)量?jī)?nèi)容：絕緣擊穿電壓（kV），絕緣擊穿的強(qiáng)度（kV/mm）

                               設(shè)定內(nèi)容：初始電壓，結(jié)束電壓，升壓速度，ARC檢測(cè)，電極間距離，電流上限值

波形顯示功能波形顯示內(nèi)容：電壓，電流，絕緣電阻

                               采樣速度：500 kS/s

                               內(nèi)存容量：512 K words

ARC放電檢測(cè)功能檢測(cè)方式：監(jiān)視試驗(yàn)測(cè)試電壓的變動(dòng)

                               設(shè)定內(nèi)容：測(cè)試電壓變動(dòng)率1％～50％

存儲(chǔ)功能·波形·圖形

                保存到U盤

                保存格式：BMP、PNG、CSV文件

               ·面板保存功能

               將測(cè)試條件保存在主機(jī)內(nèi)存中

               直流耐壓測(cè)試模式/絕緣電阻測(cè)試模式：最多64個(gè)

               程序測(cè)試：最多30個(gè)（最多50步）

               絕緣擊穿電壓測(cè)試：最多10個(gè)

               ·數(shù)據(jù)存儲(chǔ)功能

               測(cè)量值保存在內(nèi)存，最多32000個(gè)

判定功能（判定輸出）判定為PASS，判定為FAIL（UPPER FAIL，LOWER FAIL）

                                               UPPER_FAIL：測(cè)量值＞上限值

                                               PASS：上限值≥測(cè)量值≥下限值

                                               LOWER_FAIL：測(cè)量值＜下限值

注記（*1）環(huán)境溫度t不足5℃時(shí)加上±(1% rdg.×(5-t ) )

               環(huán)境溫度t超過(guò)35℃時(shí)加上±(1% rdg.×(t-35 ) )

絕緣電阻測(cè)量精度（*2）（精度保證測(cè)試電壓范圍：50 V ~ 2000 V）

測(cè)試范圍100 kΩ ～ 99.99 GΩ

10 nA ≦ I ≦ 3 μA100 MΩ ～ 999.9 MΩ

                               1.00 GΩ ～ 99.99 GΩ±(20% rdg.)

100 nA ≦ I ≦ 30 μA10.00 MΩ ～ 99.99 MΩ

                               100.0 MΩ ～ 999.9 MΩ±(5% rdg.)

1 μA ≦ I ≦ 300 μA1.000 MΩ ～ 9.999 MΩ

                               10.00 MΩ ～ 99.99 MΩ±(2% rdg. + 5 dgt.)

10 μA ≦ I ≦ 3 mA100.0 kΩ ～ 999.9 kΩ

                               1.000 MΩ ～ 9.999 MΩ±(1.5% rdg. +3 dgt.)

100 μA ≦ I ≦ 20 mA100.0 kΩ ～ 999.9 kΩ±(1.5% rdg. +3 dgt.)

注記（*2）

· 測(cè)試電壓為50 V?99 V時(shí)，測(cè)量精度加算±10%

· 測(cè)試電壓為100 V?999 V時(shí)，測(cè)量精度加算±5%

· 測(cè)試電壓為1000 V?2000 V時(shí)，測(cè)量精度加算±2%

· 環(huán)境溫度t小于5℃時(shí)，加上測(cè)量電流I < 100 nA:±(5% rdg.×(5-t ) )，

或者加上測(cè)量電流I≧100 nA:±(1% rdg.×(5-t ) )

· 環(huán)境溫度t超過(guò)35℃時(shí)，加上測(cè)量電流I < 100 nA:±(5% rdg.×(t-35 ) )，

或者加上測(cè)量電流I≧100 nA:±(1% rdg.×(t-35 ) )

· 測(cè)定速度為FAST2時(shí)，測(cè)量精度加倍